
首先,光纖連接器過度拋光的指示器在回波損耗和插入損耗的測量中重復能力差。對于大多數“彈簧式套圈連接器”,例如;LC,SC,MU,FC連接器的過度拋光很難測量。
在大多數情況下,連接器制造商會指定陶瓷插芯末端到金屬光纖法蘭底部的關鍵長度。然后,該臨界長度將轉化為相對于連接器外殼的正確暴露,并確保在光纖(xian)適配(pei)器(qi)中時正確的配合接合。由于沒有可用的長度計來正確地進行測量,并且金屬光纖法蘭中的套圈的長度通常也不可用,因此監視連接器拋光壽命的替代方法是“計算”要重新拋光的內部最大時間。
最大數量因供應商不同而(er)異,只能通過涉及振動,環境和其他(ta)機(ji)械測試的長期(qi)可靠性測試才能真(zhen)正確定。
彈(dan)簧(huang)的(de)光(guang)(guang)纖連接器在很大程(cheng)度上拋(pao)光(guang)(guang)后(hou),很大程(cheng)度上依(yi)賴(lai)于(yu)每個光(guang)(guang)纖連接器的(de)預計和計算出的(de)彈(dan)力,以確(que)保適配(pei)器的(de)開口(kou)套筒內部牢固(gu)配(pei)合。例如(ru),如(ru)果連接器被(bei)打磨過(從開始起超(chao)過3次),則很難控制插入損耗(hao)(hao)和回(hui)波損耗(hao)(hao)的(de)可重復(fu)讀取。最顯(xian)著的(de)是回(hui)波損耗(hao)(hao),由(you)于(yu)彈(dan)簧(huang)力的(de)變(bian)化,回(hui)波損耗(hao)(hao)將(jiang)在讀數(shu)中表(biao)現出更(geng)多的(de)變(bian)化。
據我(wo)所知,沒有(you)記錄過可以重新(xin)拋(pao)光(guang)連接器的次數,但是通常我(wo)會(hui)指(zhi)示所有(you)新(xin)制(zhi)造商將(jiang)重新(xin)拋(pao)光(guang)的次數限制(zhi)為2次。這是為了防止(zhi)過多地除(chu)去(qu)陶瓷密封(feng)墊圈材(cai)料,并防止(zhi)隨后從金屬法蘭的尖端到底(di)部縮短密封(feng)??墊圈。
監視光(guang)纖連(lian)接(jie)器拋(pao)光(guang)的另一種(zhong)“可(ke)視”方法是(shi)用(yong)標(biao)線尺刻度(du)測量套圈表(biao)面(mian)上的起始陶(tao)瓷(ci)斜角長(chang)度(du),隨(sui)著連(lian)接(jie)器拋(pao)光(guang),斜角長(chang)度(du)隨(sui)每個連(lian)接(jie)器/套圈制(zhi)造商的不同而變化,斜角長(chang)度(du)會縮(suo)短,尤其是(shi)在(zai)過度(du)拋(pao)光(guang)的連(lian)接(jie)器。
對(dui)于其他類型(xing)的(de)(de)主(zhu)動使用的(de)(de)連接(jie)器,例如(ru)SMA,此連接(jie)器的(de)(de)設計意圖具有特定的(de)(de)預拋(pao)光(guang)長(chang)(chang)度(du)(du)。這是在連接(jie)器中兩個連接(jie)器都必須保(bao)持(chi)的(de)(de)關鍵(jian)長(chang)(chang)度(du)(du)。配對(dui)光(guang)纖適配器會(hui)相互接(jie)觸,并提供(gong)可(ke)重復的(de)(de)插入損耗(hao)讀數。如(ru)果(guo)其中一個連接(jie)器的(de)(de)拋(pao)光(guang)度(du)(du)甚至超過了.0001,將(jiang)發生非接(jie)觸,并造(zao)成高損耗(hao)配合。此后(hou)拋(pao)光(guang)長(chang)(chang)度(du)(du)也適用于舊的(de)(de)ATT Biconic型(xing)連接(jie)器,該連接(jie)器要求將(jiang)最終(zhong)拋(pao)光(guang)保(bao)持(chi)在.0003英寸。