在經過正確校準的IL / RL儀表上進行測量時，我的某些跳線顯示出增益。這怎么可能？由于跳線無法獲得增益，是儀器有問題嗎？如(ru)果您的IL / RL測量儀已正(zheng)確校準，則儀器可能沒有(you)任何(he)問題(ti)(ti)。要了解這個令人費解的問題(ti)(ti)，我們(men)必(bi)須查看測量方法。
請(qing)記住，不可能單獨測(ce)(ce)量跳(tiao)線。它需(xu)要(yao)連(lian)接(jie)到(dao)某物–需(xu)要(yao)測(ce)(ce)試跳(tiao)線
一種測試方法使用一對測試跳線(xian)：啟(qi)動和(he)接收。將它們連接在一起以進行參考，然后將被測設備（DUT）插(cha)入(ru)它們之間。這(zhe)樣就得(de)出了跳線(xian)的總(zong)插(cha)入(ru)損(sun)耗，包括兩端的連接。IL儀表僅報告基準和(he)測量連接之間的功率差(cha)異。
如(ru)果測試(shi)光(guang)(guang)纖(xian)連(lian)(lian)接器是完美的(de)，則它(ta)們在(zai)參考(kao)階(jie)段不會(hui)造(zao)成任(ren)何損失(shi)。測量的(de)任(ren)何損失(shi)都可能是由于DUT的(de)連(lian)(lian)接器或光(guang)(guang)纖(xian)中(zhong)(zhong)的(de)缺陷。如(ru)果測試(shi)光(guang)(guang)纖(xian)存在(zai)幾何誤差，則參考(kao)時偏(pian)離(li)適當居中(zhong)(zhong)狀態(tai)可能會(hui)產(chan)生損耗。
在最壞的情況下，偏(pian)移量將為180度(du)。如果DUT恰好(hao)在每個(ge)端都有(you)偏(pian)移量以(yi)匹配測(ce)試(shi)光纖，則在某種(zhong)程度上它將(jiang)抵消(xiao)偏(pian)移(yi)量(liang)的影響。因此，測量(liang)損(sun)失(shi)（由(you)于這種(zhong)影響）將(jiang)小于參考損(sun)失(shi)，并(bing)且光纖的插入損耗將為負，這似乎(hu)具有增益！
通常，測試跳線偏移將相對于被測設備處于隨機方向，其他損耗影響可能更大。效果是從DUT的真實IL中隨機增加或減去少量。但是有時會出現實際的增益。
作為附帶說明，我建議使用高質量的測試跳線，以幫助確保準確的插入損耗測量。顯然，要確定跳線的性能，必須使用其他光纖，這些光纖的質量會影響被測設備的測量結果。您可以使用高質量的跳線，但是對于您的生產設施而言，它們可能會非常昂貴。另一方面，使用來源不明的廉價跳線不是一個好主意。我建議您購買由成熟的一流制造商生產的高質量跳線，嘉富在此提供。
如果您對測試跳線有疑(yi)問(wen)，請隨時與我們(men)的技(ji)術專家(jia)聯系，我們(men)將盡快答復(fu)。我們(men)的目標是提(ti)供信息和教程(cheng)，以便您可以不斷改善測試過程(cheng)。
如何準確測量IL / RL –本文討論了為什么測量插入損耗和回波損耗很重要，以及如何精確測量IL / RL。另外，我提供有關在測量RL時是否使用心軸套，折射率匹配凝膠或光學時域反射儀（OTDR）的具體建議。
IL / RL差的原因是什么？–在這次詳盡的討論中，我處理了多個生產問題，這些問題可能會導致不良的插入損耗和回波損耗，并提出了解決這些問題的具體建議。
插入損耗測量，而不是一項瑣碎的任務–如果您的生產設備是新的，是否應該制造自己的發射跳線？至少在最初，這可能不是一個好主意。另外，您知道發射跳線應該使用相同的光纖類型，而不僅僅是相同的大小嗎？
環通量–相對非技術性的概述– IEC 61280-4-1標準規定了在發射到被測設備中時光（通量）的分布。“環繞光通量”是一種相當宏偉的方式，可以說出磁芯內給定尺寸的每個圓圈內的光量。
雙向測(ce)試是(shi)將所有光學測(ce)試時間縮短一半(ban)的靈丹妙藥嗎(ma)？許多光纖裝配廠都(dou)希(xi)望(wang)進(jin)行雙向測(ce)試(shi)以節省時間(jian)。但是，有些不(bu)能正(zheng)確(que)使用(yong)此(ci)測(ce)試(shi)方(fang)法。
